Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля

Название: Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
Автор: Д. Брандон, У. Каплан
Издательство: Техносфера
Год: 2004
Страниц: 377
Формат: djvu
Размер: 12,6 Мб
ISBN: 5-94836-018-0
Качество: приемлемое
Язык: Русский
Предмет: Физика

Описание:
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования и материаловедения.
Описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров, студентов.